NanoLetters:燕山大學(xué)黃建宇教授利用冷凍傳輸及原位FIB技術(shù)研究鋰電池失效機制
FIB/SEM雙束電鏡廣泛應(yīng)用于材料樣品的制備,不論是神奇的納米剪紙還是測試力學(xué)的納米微柱都離不開FIB的精密加工。但是目前利用FIB進行原位研究的工作還少有報道。近日,澤攸科技助力燕山大學(xué)黃建宇教授團隊利用原位FIB/SEM技術(shù)解析硫化物固態(tài)電解質(zhì)的失效機制,該研究成果以“Size dependent chemom...
MORE INFO → SEM原位解決方案 2022-01-07
