掃描電鏡觀察金屬和非金屬有區(qū)別嗎？

有區(qū)別，而且在操作方法、樣品制備、成像效果等方面差別不小。

非導(dǎo)電樣品在掃描電鏡中如何成像

非導(dǎo)電樣品在掃描電鏡（SEM）中直接成像時(shí)容易出現(xiàn)電荷積累（charging）問(wèn)題，導(dǎo)致圖像漂移、發(fā)亮斑點(diǎn)或模糊。

在掃描電鏡（SEM）下，樣品充電（charging）主要發(fā)生在非導(dǎo)電或低導(dǎo)電材料表面，因?yàn)殡娮邮Z擊后產(chǎn)生的多余電荷無(wú)法及時(shí)泄放。

掃描電鏡（SEM）圖像中顆粒顯示模糊，通常是以下幾個(gè)原因造成的。根據(jù)經(jīng)驗(yàn)和常見(jiàn)問(wèn)題，可以從以下幾個(gè)方面來(lái)排查和解決：

在使用掃描電鏡（SEM）拍圖時(shí)，建議關(guān)閉燈光（尤其是室內(nèi)白熾燈、日光燈或輔助照明），具體原因如下：

當(dāng)掃描電鏡（SEM）圖像變亮或出現(xiàn)過(guò)曝現(xiàn)象時(shí)，說(shuō)明圖像中部分區(qū)域亮度過(guò)高，導(dǎo)致細(xì)節(jié)丟失、圖像偏白或泛光。

掃描電鏡（SEM）拍圖時(shí)通常需要調(diào)整樣品的高度，這是成像質(zhì)量和操作效率的重要因素。

掃描電鏡（SEM）成像時(shí)出現(xiàn)干擾條紋，通常是由于外部干擾、電氣系統(tǒng)異?；驑悠穯?wèn)題引起的。