掃描電鏡樣品成像時(shí)被燒焦了怎么辦？

掃描電鏡（SEM）樣品成像過(guò)程中被“燒焦”，一般指樣品在電子束照射下發(fā)生局部碳化、變色、融化或形貌破壞，這是一種不可逆的損傷現(xiàn)象，尤其在非導(dǎo)電或有機(jī)樣品中較常見。

掃描電鏡樣品成像時(shí)邊緣特別亮的原因

在掃描電鏡（SEM）成像時(shí)，如果樣品邊緣特別亮，這是一個(gè)非常常見的現(xiàn)象，通常由以下幾個(gè)主要原因造成：

在掃描電鏡（SEM）拍圖時(shí)，標(biāo)注比例尺（scale bar）是非常重要的一步，可以讓觀察者明確圖像所代表的實(shí)際尺寸。

二維材料是指具有原子級(jí)厚度（通常僅單層或幾層原子）且在兩個(gè)維度（平面方向）上延展，第三個(gè)維度（厚度方向）被限制在納米尺度的新型材料。

在掃描電鏡（SEM）圖像中看到的“亮”和“暗”區(qū)域，代表的是電子信號(hào)強(qiáng)度的差異，而這種差異取決于多種因素，包括成像模式、材料性質(zhì)、表面形貌和探測(cè)器方向。

在掃描電鏡（SEM）拍照時(shí)，是可以保存原圖像比例的，但是否真正保留了原始比例（即像素與實(shí)際尺寸的對(duì)應(yīng)關(guān)系），取決于以下幾個(gè)因素：

在掃描電鏡（SEM）中，為了對(duì)比同一區(qū)域在不同放大倍數(shù)下的圖像細(xì)節(jié)差異，可以使用圖像處理軟件實(shí)現(xiàn)“多重圖層疊加”對(duì)比。

在掃描電鏡（SEM）中進(jìn)行金屬噴鍍時(shí)，噴鍍層的厚度確實(shí)會(huì)影響圖像細(xì)節(jié)的呈現(xiàn)，尤其是高分辨率成像和觀察微小結(jié)構(gòu)時(shí)。