透射電鏡原位電學測量樣品桿廠家-樣品桿價格
日期：2022-05-17
PicoFemto系列透射電鏡原位測量系統(tǒng)源于中科院物理研究所SF1組（20世紀90年代），圍繞原位電學測量樣品桿，澤攸科技不斷進行產(chǎn)品迭代及功能拓展，已推出電、力、光、熱、低溫等多種原位功能樣品桿，產(chǎn)品覆蓋國內(nèi)原位電鏡市場的同時也遠銷美國、英國、德國及澳大利亞科研市場。
PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位電學測量樣品桿 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并在電學測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態(tài)進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。
原位電學測量樣品桿技術指標
| 電學測量 | 力學操縱 |
| 1.包含一個電流電壓測試單元； | 1.探針粗細調(diào)方式：全軟件操控； |
| 2.電流測量范圍：1nA-30mA； | 2.粗調(diào)范圍：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm； |
| 3.電流分辨率：100fA； | 3.細調(diào)范圍：XY方向18um，Z方向1.5um； |
| 4.電壓輸出范圍：±10V，±150V； | 4.細調(diào)分辨率：XY方向0.4nm，Z方向0.04nm； |
| 5.軟件自動測量：I-V、I-t |
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原位電學測量樣品桿產(chǎn)品選型
原位電學測量樣品桿 具有單傾、雙傾兩個版本，用戶可根據(jù)實驗需求自行選擇。
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號樣品桿，同時保證透射電鏡原有分辨率。
原位電學測量樣品桿國內(nèi)部分用戶
典型案例
1、透射電鏡內(nèi)的原位電學實驗；
2、透射電鏡內(nèi)的原位壓縮、拉伸實驗。
安徽澤攸科技有限公司是原位電學測量樣品桿生產(chǎn)廠家，關于原位電學測量樣品桿價格請咨詢
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作者：澤攸科技
