掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，SEM）是一種利用高速電子掃描來研究材料表面形態(tài)和結構的儀器。相比于傳統(tǒng)光學顯微鏡，SEM具有更高的分辨率和深度，可以觀察到更小尺度的微觀結構和表面形貌。SEM在材料科學、生物學、地質學、電子學等領域廣泛應用。

SEM的原理是將樣品放在真空室內，然后用電子槍產生高速電子束，掃描樣品表面，樣品表面受到電子轟擊后發(fā)出的次級電子、反射電子等被收集并轉化成圖像信號，然后通過電子透鏡和探測器放大和檢測這些信號，再通過計算機進行圖像處理和分析，然后形成高分辨率的樣品表面形貌圖像。

臺式掃描電鏡

SEM的應用范圍很廣，常用于材料科學中的納米材料、復合材料、金屬材料、陶瓷材料等的形貌表征、成分分析和晶體結構分析；生物學中的細胞結構、細胞器結構、生物材料的形貌表征等方面的研究；電子學中的芯片材料和器件結構分析等方面的應用；地質學中的礦物學和巖石學方面的研究等。SEM還可以與其他分析技術如X射線能譜分析、掃描探針顯微鏡等結合使用，進行更加全的分析和表征。

總之，SEM是一種非常有用的高分辨率顯微技術，可以用來觀察和分析各種不同領域的材料和結構，為科學研究和工業(yè)生產提供了強有力的工具和支持。

以上就是安徽澤攸科技有限公司小編介紹的掃描電子顯微鏡的原理及應用。更多掃描電鏡價格及信息請咨詢