如何在掃描電鏡中定位同一位置進行多次觀察？

在掃描電鏡（SEM）中定位同一位置進行多次觀察，是實現(xiàn)重復成像、前后對比、時間演化研究的重要操作。

掃描電鏡工作距離調節(jié)不當會帶來哪些問題？

掃描電鏡（SEM）中的工作距離（Working Distance，簡稱 WD）是指電子槍發(fā)出的電子束末端（物鏡極柱）到樣品表面的垂直距離。

掃描電鏡（SEM）在成像過程中對樣品表面狀態(tài)非常敏感，樣品表面不平整（如高低起伏、傾斜、凹凸不平）會對圖像質量和分析結果產生多個方面的負面影響：

在掃描電鏡（SEM）觀察中，如果圖像出現(xiàn)漂移、跳動或位置不穩(wěn)定，可能是由于樣品偏移或不穩(wěn)定造成的。

當使用掃描電鏡（SEM）觀察非導電樣品（如生物樣本、陶瓷、高分子材料等）時，樣品帶電可能導致圖像模糊、偏移、亮度不均或漂移。

判斷掃描電子顯微鏡（SEM）成像是否正常，需要從圖像質量、設備狀態(tài)、樣品制備等多個維度進行綜合判斷。

掃描電鏡（SEM）樣品臺通?？梢哉{節(jié)角度，這是樣品臺設計中的一個重要功能，具體包括傾斜（tilt）和旋轉（rotate）兩個方向的調節(jié)。

掃描電鏡（SEM）圖像突然變暗可能由多種因素引起，需從電子束系統(tǒng)、信號檢測、樣品狀態(tài)及環(huán)境條件等方面逐步排查。