掃描電鏡成像過(guò)程中常見(jiàn)的偽影有哪些？

掃描電鏡（SEM）成像過(guò)程中出現(xiàn)的偽影（artifact）是影響圖像質(zhì)量和判讀準(zhǔn)確性的重要問(wèn)題。

在掃描電鏡中如何設(shè)定掃描速度？對(duì)圖像有何影響？

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，掃描速度指的是電子束在樣品表面每個(gè)像素上停留的時(shí)間，通常通過(guò)設(shè)置“幀時(shí)間”或“像素駐留時(shí)間”來(lái)調(diào)節(jié)。

掃描電鏡（SEM）中的“電荷積聚”（Charging）現(xiàn)象是指非導(dǎo)電樣品在電子束照射下無(wú)法及時(shí)釋放電荷，導(dǎo)致電子在樣品表面積累。

要保存高質(zhì)量的掃描電鏡（SEM）圖片，需要從拍攝參數(shù)、文件格式、后期處理和存儲(chǔ)管理等方面進(jìn)行系統(tǒng)優(yōu)化。

掃描電鏡（SEM）中樣品表面放電（充電效應(yīng)）會(huì)嚴(yán)重干擾成像，表現(xiàn)為亮斑、圖像扭曲或閃爍。

在掃描電鏡（SEM）中獲取樣品成分信息，主要通過(guò)能譜儀（EDS）和背散射電子（BSE）成像實(shí)現(xiàn)。

掃描電鏡（SEM）能夠觀察多種類(lèi)型的樣品，但其制備要求和成像效果因樣品性質(zhì)（導(dǎo)電性、耐電子束能力、含水量等）而異。

當(dāng)掃描電鏡（SEM）開(kāi)機(jī)后電子束無(wú)法對(duì)中時(shí)，可按以下步驟系統(tǒng)排查和調(diào)整：