PicoFemto透射電鏡原位光電性質(zhì)測(cè)試系統(tǒng)（非定量力+電+光+三維操縱）在標(biāo)......
PicoFemto透射電鏡原位低溫電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)（非定量力+電+低溫+三維操縱）在......
透射電鏡原位力學(xué)-電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)（定量力+電+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿......
ZEM18臺(tái)式掃描電鏡信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品......
ZEM20臺(tái)式掃描電微鏡操作簡便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手......
采用壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)的納米級(jí)物鏡掃描臺(tái)，內(nèi)部使用無摩擦及空回的柔性較鏈導(dǎo)向機(jī)構(gòu)，確保......
SEM熱電芯片臺(tái)可搭配電學(xué)測(cè)試，兼容指定型號(hào)掃描電鏡，芯片兼容TEM-MEMS原......
SEM冷凍真空傳輸系統(tǒng),冷凍傳輸解決方案。...
SEM納米探針臺(tái)產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)了三維空間上的準(zhǔn)確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程......
