掃描電鏡SEM可以用來觀察和分析各種材料的表面形貌和微結(jié)構(gòu)。那么掃描電鏡可以分析什么呢？

表面形貌：SEM能夠以高分辨率觀察物體表面的形貌，包括粗糙度、表面紋理、表面形態(tài)等。

成分分析：SEM可以通過能譜儀（EDS）或電子能量捕獲器（EBSD）等技術(shù)來分析樣品的元素組成及其分布情況。

晶體結(jié)構(gòu)：SEM可以觀察樣品的晶體結(jié)構(gòu)，包括晶體的形態(tài)、大小、晶面、晶界等。

斷口形貌：SEM可以觀察和分析斷口形貌，包括斷口的形態(tài)、大小、裂紋等。

表面化學(xué)性質(zhì)：SEM可以通過熒光探針和熒光光譜儀等技術(shù)，觀察和分析樣品表面的化學(xué)性質(zhì)。

磁性性質(zhì)：SEM還可以觀察和分析樣品的磁性性質(zhì)，包括磁疇、磁性相等。

ZEM15臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)

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