通過(guò)掃描電鏡（SEM）進(jìn)行樣品的化學(xué)組成分析，通常需要結(jié)合能量色散X射線光譜（EDS，Energy Dispersive X-ray Spectroscopy）技術(shù)。SEM的成像功能和EDS的成分分析功能相結(jié)合，可以提供關(guān)于樣品表面形貌以及元素組成的詳細(xì)信息。以下是如何通過(guò)掃描電鏡實(shí)現(xiàn)化學(xué)組成分析的具體步驟和原理。

1. SEM成像與EDS原理

掃描電鏡成像：SEM通過(guò)電子束掃描樣品表面，產(chǎn)生二次電子（SE）或背散射電子（BSE），形成高分辨率的表面形貌圖像。

EDS技術(shù)：當(dāng)電子束打在樣品表面時(shí)，會(huì)激發(fā)樣品中的原子，從而發(fā)射出特征X射線。每種元素發(fā)出的X射線具有不同的能量，這些特征X射線通過(guò)EDS探測(cè)器收集和分析，從而可以確定樣品中各元素的存在及其相對(duì)含量。

2. 準(zhǔn)備樣品

確保樣品適合進(jìn)行SEM和EDS分析：

導(dǎo)電性：非導(dǎo)電樣品需要鍍上一層導(dǎo)電材料（如金或碳），以避免電荷積累，從而提高SEM成像效果。如果僅進(jìn)行EDS分析，通常選用鍍碳層，因?yàn)樗粫?huì)顯著干擾X射線信號(hào)。

樣品尺寸：樣品應(yīng)該盡可能平整，以確保良好的電子束照射和X射線探測(cè)效果。

3. 進(jìn)行SEM成像

設(shè)定成像條件：在低加速電壓下進(jìn)行初步成像，可以避免樣品損傷。初步成像幫助定位感興趣的區(qū)域，尤其是有可能含有不同成分的區(qū)域。

高放大倍率：選擇適當(dāng)?shù)姆糯蟊堵室杂^察樣品的細(xì)節(jié)結(jié)構(gòu)。

4. 進(jìn)行EDS分析

一旦選定感興趣的區(qū)域，可以啟動(dòng)EDS分析功能，具體步驟如下：

4.1 激發(fā)X射線

當(dāng)電子束照射樣品時(shí)，樣品中的原子被激發(fā)到較高的能級(jí)，然后通過(guò)釋放X射線返回基態(tài)。EDS系統(tǒng)可以檢測(cè)到這些X射線，并根據(jù)其能量確定其來(lái)源的元素。

4.2 收集X射線信號(hào)

位置選擇：可以選擇點(diǎn)、線或面（區(qū)域）進(jìn)行EDS分析。選擇點(diǎn)分析時(shí)，電子束集中在一個(gè)特定點(diǎn)上進(jìn)行成分分析；選擇面分析時(shí)，可以獲得該區(qū)域的元素分布圖像。

X射線譜圖：EDS系統(tǒng)生成一個(gè)X射線譜圖（X-ray spectrum），譜圖中的峰對(duì)應(yīng)于樣品中存在的元素，每個(gè)峰的強(qiáng)度表示該元素的大致含量。

4.3 定性分析

X射線譜圖上顯示不同元素的特征峰，通過(guò)對(duì)比已知的X射線能量，可以確定樣品中包含哪些元素。

4.4 定量分析

使用軟件工具對(duì)譜圖進(jìn)行定量分析，計(jì)算各元素的相對(duì)含量。定量分析需要校正X射線的吸收和熒光效應(yīng)等因素。

4.5 元素分布圖

如果需要顯示元素在樣品表面的分布情況，可以選擇EDS元素成像模式。通過(guò)掃描電子束生成的元素分布圖，可以直觀地看到特定元素在樣品中的分布情況。

5. EDS參數(shù)設(shè)置

EDS分析的結(jié)果與電子束的加速電壓、樣品厚度、EDS探測(cè)器位置等因素密切相關(guān)。以下是一些關(guān)鍵參數(shù)設(shè)置：

加速電壓：通常使用較高的電壓（如15-20 kV）來(lái)產(chǎn)生更多的X射線信號(hào)。但對(duì)于輕元素分析，較低的電壓（如5-10 kV）更為有效，因?yàn)楦唠妷嚎赡軙?huì)導(dǎo)致輕元素X射線信號(hào)被掩蓋。

采集時(shí)間：采集時(shí)間越長(zhǎng)，信號(hào)噪聲比越高，結(jié)果越準(zhǔn)確。一般建議采集時(shí)間設(shè)置為幾十秒到幾分鐘。

探測(cè)器位置：EDS探測(cè)器通常位于樣品側(cè)面，確保探測(cè)器對(duì)電子束產(chǎn)生的X射線信號(hào)具有良好的接受角度。

6. 分析結(jié)果的解釋

EDS分析的結(jié)果包括X射線譜圖和元素分布圖。在解釋結(jié)果時(shí)，以下幾點(diǎn)需要注意：

元素分辨率：EDS可以準(zhǔn)確區(qū)分主要元素和次要元素，但對(duì)于相鄰的元素，特別是一些過(guò)渡金屬，X射線峰可能會(huì)重疊?？梢酝ㄟ^(guò)軟件進(jìn)行去卷積處理來(lái)解決這一問(wèn)題。

樣品制備對(duì)結(jié)果的影響：樣品制備（如鍍膜）可能引入外來(lái)元素。例如，鍍碳會(huì)在譜圖中顯示碳元素，因此在解釋譜圖時(shí)要考慮這些外源成分。

7. 結(jié)合其他技術(shù)進(jìn)行分析

為了獲得更全的化學(xué)成分信息，可以結(jié)合以下技術(shù)與EDS進(jìn)行分析：

波長(zhǎng)色散X射線光譜（WDS）：相比EDS，WDS的分辨率更高，可以更好地區(qū)分相鄰元素的特征X射線。

電子后散射衍射（EBSD）：與EDS結(jié)合可以同時(shí)獲得晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分信息。

拉曼光譜或紅外光譜：可以進(jìn)一步提供關(guān)于分子結(jié)構(gòu)和化學(xué)鍵的信息。

以上就是澤攸科技小編分享的如何通過(guò)掃描電鏡實(shí)現(xiàn)樣品的化學(xué)組成分析。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢