在掃描電鏡（SEM）成像中，信號噪聲是導(dǎo)致圖像模糊、對比度下降甚至細(xì)節(jié)丟失的重要原因。理解噪聲來源及其抑制方法，可以幫助優(yōu)化成像質(zhì)量。

一、SEM信號噪聲的主要來源

電子源噪聲

電子槍發(fā)射電流不穩(wěn)定會導(dǎo)致束流強(qiáng)度波動，從而在圖像中表現(xiàn)為亮度抖動或條紋。

探測器噪聲

探測器本身的電子學(xué)噪聲（如放大器熱噪聲、暗電流）會疊加在信號上。

環(huán)境電磁干擾

周圍設(shè)備產(chǎn)生的電磁場、實驗室電源系統(tǒng)的工頻干擾（50/60 Hz）容易在圖像中形成周期性條紋。

機(jī)械振動與聲波

地面震動、真空泵運(yùn)行或外界聲波通過機(jī)械耦合傳遞到樣品，造成電子束掃描位置不穩(wěn)定，導(dǎo)致圖像模糊。

真空條件不良

如果腔體真空不足，氣體分子與電子束碰撞會引入隨機(jī)噪聲，降低信噪比。

樣品表面電荷積累

非導(dǎo)電樣品在電子轟擊下積累電荷，造成電子束偏轉(zhuǎn)和信號隨機(jī)波動。

統(tǒng)計噪聲（散粒噪聲）

二次電子或X射線的產(chǎn)生是統(tǒng)計過程，信號強(qiáng)度有限時會表現(xiàn)為圖像顆粒感。

二、常見的噪聲抑制方法

電子源優(yōu)化

使用高穩(wěn)定性的電子源（如場發(fā)射槍），并保持電子槍電壓、電流穩(wěn)定。

探測器與電子學(xué)改進(jìn)

選擇靈敏度高、低噪聲的探測器；優(yōu)化放大器、濾波器設(shè)計。

屏蔽電磁干擾

在顯微鏡周圍設(shè)置電磁屏蔽，保證獨(dú)立穩(wěn)定的電源線路，避免與大功率設(shè)備共線。

隔振與降噪

安裝防振平臺，遠(yuǎn)離強(qiáng)振動源（如大功率機(jī)械設(shè)備、道路交通）；控制實驗室聲學(xué)環(huán)境。

改善真空系統(tǒng)

確保真空腔體密封良好，保持高真空，減少電子散射。

樣品處理

對非導(dǎo)電樣品進(jìn)行金屬或碳鍍膜，提高導(dǎo)電性，避免電荷積累。

也可使用低加速電壓成像以減少充電效應(yīng)。

成像參數(shù)優(yōu)化

適當(dāng)增加束流和采集時間，提升信號強(qiáng)度；

使用圖像積分或多幀平均來提升信噪比。

后期圖像處理

使用平滑濾波、傅里葉去噪等方法進(jìn)行圖像降噪，但要注意避免細(xì)節(jié)丟失。