在掃描電子顯微鏡SEM中需要 高真空環(huán)境，主要原因有以下幾個(gè)方面：

防止電子與空氣分子碰撞

SEM 的成像依靠電子束掃描樣品。若環(huán)境中存在較多空氣分子，電子會(huì)與氣體分子發(fā)生散射和能量損失，導(dǎo)致電子束發(fā)散、分辨率下降，無法形成清晰圖像。

高真空能大大減小電子散射幾率，保證電子束聚焦成細(xì)小光斑，提高成像清晰度和分辨率。

保護(hù)電子槍的工作穩(wěn)定性

SEM 常用的電子源（熱電子發(fā)射燈絲、場(chǎng)發(fā)射槍等）需要高真空條件才能正常工作。

如果真空不足，燈絲容易被氣體分子氧化或污染，壽命縮短；而場(chǎng)發(fā)射槍對(duì)真空要求更高（通常需 10?? Pa 甚至更高真空），否則發(fā)射端會(huì)迅速被污染失效。

保證樣品表面與探測(cè)器信號(hào)的準(zhǔn)確性

SEM 成像依賴于樣品與電子束相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等信號(hào)。若存在殘余氣體分子，這些信號(hào)電子會(huì)與氣體碰撞，被散射或吸收，從而降低探測(cè)效率，影響圖像對(duì)比度和信噪比。

同時(shí)，真空不足時(shí)殘余氣體還可能在樣品表面沉積，導(dǎo)致樣品表面污染，改變成像效果。

避免放電和弧光現(xiàn)象

在電子光學(xué)系統(tǒng)中，高電壓（如加速電壓可達(dá)幾 kV 到幾十 kV）與氣體分子共存會(huì)容易引發(fā)電離放電現(xiàn)象，損壞儀器。

高真空能顯著降低這種風(fēng)險(xiǎn)，保證 SEM 長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行。