在掃描電鏡（SEM）中，如果樣品是非導電材料或者導電處理不充分，電子束照射會在表面積累電荷，從而產生 電子充電噪聲，其表現(xiàn)主要有以下幾類：

1. 圖像亮暗不均

局部區(qū)域過亮或過暗，尤其是絕緣或薄層區(qū)域。

在連續(xù)掃描中，這些區(qū)域亮度會不斷變化。

2. 條紋或閃爍

充電區(qū)域可能出現(xiàn)水平或垂直條紋，與掃描方向相關。

圖像閃爍或跳動，尤其在放大倍數(shù)高時更明顯。

3. 邊緣拖影或模糊

電子束與樣品邊緣的電荷相互作用，導致邊緣信號偏移。

條形或顆粒邊緣出現(xiàn)拖影，圖像不清晰。

4. 信號隨機噪聲增強

原本信號較弱的區(qū)域可能出現(xiàn)隨機亮點或噪點。

類似“雪花”狀噪聲，影響定量測量。

5. 掃描偏移或圖像扭曲

充電會改變電子束路徑，導致圖像整體或局部形變。

特別在高分辨率下，容易產生扭曲或非線性失真。