掃描電鏡（SEM）的掃描速度是可以調(diào)節(jié)的，而且這是影響圖像質(zhì)量和噪聲水平的重要參數(shù)之一。調(diào)整掃描速度實(shí)際上就是改變電子束在樣品表面停留的時(shí)間（也叫“像素駐留時(shí)間”），它直接關(guān)系到信噪比、分辨率和成像效率。

在掃描電鏡中，電子束是按照一定的掃描頻率逐點(diǎn)移動(dòng)并收集信號(hào)形成圖像的。掃描速度快時(shí)，電子束在每個(gè)像素上停留的時(shí)間短，圖像生成得更快，但由于信號(hào)積累少，信噪比降低，圖像容易出現(xiàn)顆粒狀噪聲或亮度不均。相反，掃描速度慢時(shí)，電子束停留時(shí)間長，信號(hào)收集更充分，圖像更平滑、對(duì)比度更高，但掃描時(shí)間會(huì)明顯增加，樣品表面也更容易受到電子束照射損傷或熱效應(yīng)影響。

在實(shí)際操作中，掃描電鏡通常提供幾種不同的掃描模式，比如“快速掃描”“慢速掃描”“幀積分掃描”等。

快速掃描 適合用于初步尋找觀察區(qū)域、調(diào)整焦距或定位樣品。

慢速掃描 則用于正式成像和保存高分辨率圖像。

積分掃描 是通過對(duì)同一區(qū)域多次掃描并取平均值，來降低隨機(jī)噪聲、提升圖像質(zhì)量的一種方法。

此外，有些掃描電鏡還允許手動(dòng)設(shè)置每個(gè)像素的駐留時(shí)間（如 1 微秒到幾毫秒），或調(diào)整幀平均次數(shù)，這樣可以在圖像質(zhì)量與時(shí)間消耗之間靈活平衡。

不過需要注意的是，當(dāng)掃描速度過慢時(shí)，容易出現(xiàn)樣品漂移、電子束漂移或電荷積累等問題，從而導(dǎo)致圖像模糊或變形。而掃描過快則會(huì)降低分辨率，使細(xì)節(jié)難以辨認(rèn)。因此，在拍攝高分辨率圖像時(shí)，通常會(huì)選擇中等偏慢的掃描速度，并結(jié)合穩(wěn)定的工作電壓、對(duì)焦與光斑控制來獲得適合效果。