掃描電鏡（SEM）圖像出現(xiàn)整體或局部發(fā)白，通常意味著信號(hào)過(guò)強(qiáng)、表面帶電、或探測(cè)設(shè)置異常。具體原因往往與樣品特性、儀器參數(shù)及真空環(huán)境等因素有關(guān)。一般來(lái)說(shuō)，可從以下幾個(gè)方面進(jìn)行判斷：

一、樣品表面帶電

如果樣品是非導(dǎo)體或?qū)щ娦暂^差（如塑料、生物樣品、陶瓷等），電子束照射后電荷無(wú)法及時(shí)泄放，會(huì)導(dǎo)致局部電荷積累。

表現(xiàn)：圖像出現(xiàn)亮斑、漂移或整體發(fā)白，亮度不均。

處理：

在樣品表面噴鍍金、鉑、碳等導(dǎo)電膜。

適當(dāng)降低束流或加快掃描速度，減少電荷積聚。

使用低真空模式（若設(shè)備支持），改善電荷泄放。

二、電子束參數(shù)設(shè)置不當(dāng)

當(dāng)加速電壓過(guò)高或束流過(guò)大時(shí)，樣品表面信號(hào)增強(qiáng)，亮度過(guò)飽和。

表現(xiàn)：圖像整體偏白、細(xì)節(jié)丟失。

處理：

適度降低加速電壓或減小探針電流。

調(diào)整探測(cè)器增益或?qū)Ρ榷?亮度設(shè)置。

嘗試改變工作距離，以獲得更合適的信號(hào)比例。

三、探測(cè)器飽和或信號(hào)放大過(guò)度

二次電子或背散射電子探測(cè)器的信號(hào)放大倍率設(shè)置過(guò)高，也可能使圖像發(fā)白。

處理：

適度調(diào)低探測(cè)器增益。

檢查是否存在信號(hào)過(guò)載提示。

若使用背散射模式，可切換至二次電子模式對(duì)比觀察。

四、樣品表面狀態(tài)與材質(zhì)差異

不同樣品表面粗糙度或元素組成差異，會(huì)導(dǎo)致電子反射或散射率不同。某些區(qū)域自然更亮。

例如：金屬邊緣、平滑面或高原子序區(qū)域往往信號(hào)更強(qiáng)，看起來(lái)更白。

這是材料特性差異造成的正?，F(xiàn)象。