掃描電鏡能看到多小的結構？

掃描電鏡（SEM）能看到的最小結構，取決于它的分辨率，而分辨率又受電子槍類型、加速電壓、樣品制備和探測模式等因素影響。

掃描電鏡常見的檢測模式有哪些？

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，電子束與樣品相互作用會產(chǎn)生多種信號，不同的檢測模式對應不同的物理信息。

掃描電鏡（SEM）之所以必須在真空環(huán)境下工作，主要有以下幾個原因：

掃描電鏡（SEM）的像差主要來自電子光學系統(tǒng)中電子束的聚焦與成像缺陷，常見的類型主要有以下幾類：

掃描電鏡（SEM）是能實現(xiàn)三維重構的，但它本身并不是直接拍 3D 圖像的，而是通過一系列手段間接獲得三維表面信息。

在掃描電鏡（SEM）中，樣品充電主要發(fā)生在非導電或低導電材料表面，因為入射電子無法及時導走，逐漸積累形成靜電電荷，導致圖像亮度變化、漂移甚至失真。

掃描電鏡（SEM）的樣品臺常見的運動方式主要包括以下幾類，每種運動方式都對應不同的調節(jié)需求：

掃描電鏡（SEM）能看到的最小結構，取決于顯微鏡的類型、電子槍性能、探測器類型以及樣品制備情況。