掃描電鏡觀察金屬和非金屬有區(qū)別嗎？

有區(qū)別，而且在操作方法、樣品制備、成像效果等方面差別不小。

非導電樣品在掃描電鏡中如何成像

非導電樣品在掃描電鏡（SEM）中直接成像時容易出現(xiàn)電荷積累（charging）問題，導致圖像漂移、發(fā)亮斑點或模糊。

在掃描電鏡（SEM）下，樣品充電（charging）主要發(fā)生在非導電或低導電材料表面，因為電子束轟擊后產(chǎn)生的多余電荷無法及時泄放。

掃描電鏡（SEM）圖像中顆粒顯示模糊，通常是以下幾個原因造成的。根據(jù)經(jīng)驗和常見問題，可以從以下幾個方面來排查和解決：

在使用掃描電鏡（SEM）拍圖時，建議關(guān)閉燈光（尤其是室內(nèi)白熾燈、日光燈或輔助照明），具體原因如下：

當掃描電鏡（SEM）圖像變亮或出現(xiàn)過曝現(xiàn)象時，說明圖像中部分區(qū)域亮度過高，導致細節(jié)丟失、圖像偏白或泛光。

掃描電鏡（SEM）拍圖時通常需要調(diào)整樣品的高度，這是成像質(zhì)量和操作效率的重要因素。

掃描電鏡（SEM）成像時出現(xiàn)干擾條紋，通常是由于外部干擾、電氣系統(tǒng)異?；驑悠穯栴}引起的。