掃描電鏡樣品臺(tái)能旋轉(zhuǎn)和傾斜嗎？

大多數(shù)掃描電鏡（SEM）的樣品臺(tái)都具備旋轉(zhuǎn)和傾斜功能，目的是為了更靈活地觀察樣品不同角度的結(jié)構(gòu)。

掃描電鏡樣品需要多大尺寸才能放進(jìn)去？

掃描電鏡（SEM）樣品尺寸能否放入主要取決于樣品室大小、樣品臺(tái)載物面積和探頭或樣品夾具的空間限制。

在掃描電鏡（SEM）里，樣品容易充電是因?yàn)殡娮邮Z擊后，樣品表面的電子無法及時(shí)泄放，累積成電荷，導(dǎo)致圖像發(fā)亮、漂移、甚至嚴(yán)重失真。

在掃描電鏡（SEM）里，成像和分析依賴不同類型的電子信號(hào)，常見信號(hào)主要有以下幾種：

在掃描電鏡里，樣品表面出現(xiàn) 充電現(xiàn)象主要是因?yàn)闃悠?導(dǎo)電性不足，電子束打到樣品表面后，電荷不能及時(shí)導(dǎo)走，在局部累積造成的。

亮暗對(duì)比是掃描電鏡（SEM）圖像基本的特征之一。亮暗對(duì)比的形成，主要來自樣品表面與電子束相互作用后信號(hào)的差異。

在掃描電鏡（SEM）里，圖像是通過電子束掃描和信號(hào)采集生成的，像素大小與放大倍數(shù)和工作條件直接相關(guān)。

掃描電鏡（SEM）并不能直接測(cè)量樣品的厚度，因?yàn)?SEM 的成像原理是基于電子束與樣品表面相互作用后產(chǎn)生的二次電子。