掃描電鏡操作時需要真空嗎

掃描電鏡（SEM）幾乎所有成像模式都必須在真空環(huán)境下進行，只是真空度要求的高低會根據(jù)樣品和成像模式而不同。

掃描電鏡電子充電噪聲的產(chǎn)生原因

掃描電鏡（SEM）中電子充電噪聲的產(chǎn)生，主要源于電子束與樣品之間的電荷相互作用，其原因可以分為以下幾類：

在掃描電鏡（SEM）中，如果樣品是非導電材料或者導電處理不充分，電子束照射會在表面積累電荷，從而產(chǎn)生電子充電噪聲，其表現(xiàn)主要有以下幾類：

掃描電鏡（SEM）在成像時，如果樣品、儀器或操作條件不合適，就容易產(chǎn)生偽影。

提高掃描電鏡（SEM）圖像對比度，可以從電子束條件、樣品處理、探測方式和成像參數(shù) 四個方向入手：

掃描電鏡（SEM）的分辨率指的是能夠分辨樣品表面上兩個最小可分開的特征點的能力，它不是單一因素決定的，而是由電子光學系統(tǒng)、信號特性和樣品條件綜合影響的。

在掃描電鏡（SEM）成像中，電荷效應主要出現(xiàn)在非導電樣品或絕緣材料上，當電子束照射時，入射電子不能及時泄放，就會在樣品表面積累電荷，導致圖像發(fā)白、漂移甚至局部失真。

在掃描電鏡（SEM）中，電子束與樣品相互作用時，除了產(chǎn)生成像信號，還可能引起對樣品的損傷。