表面粗糙度對(duì)掃描電鏡分辨率的影響

表面粗糙度對(duì)掃描電鏡（SEM）分辨率的影響主要體現(xiàn)在電子信號(hào)的產(chǎn)生、收集以及束斑聚焦等方面。

掃描電鏡樣品表面導(dǎo)電性對(duì)分辨率的影響

在掃描電鏡（SEM）觀察中，樣品表面的導(dǎo)電性對(duì)圖像分辨率和成像質(zhì)量有很大影響，主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，圖像的清晰度和可分析性很大程度上取決于噪聲控制和對(duì)比度調(diào)整。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中觀察顆粒尺寸分布，通常需要結(jié)合樣品制備、圖像采集和數(shù)據(jù)分析。

在掃描電子顯微鏡SEM中需要高真空環(huán)境，主要原因有以下幾個(gè)方面：

提升掃描電子顯微鏡（SEM）的分辨率，本質(zhì)上就是要讓電子束更細(xì)、更穩(wěn)定地聚焦到樣品表面，并減少信號(hào)干擾。

掃描電鏡（SEM）圖像模糊是一個(gè)常見問題，通常和儀器狀態(tài)、成像參數(shù)、樣品條件有關(guān)。

在掃描電鏡（SEM）觀察樣品時(shí)，很多情況下需要對(duì)樣品進(jìn)行鍍金或鍍碳處理。